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  • 密封性測試儀

    密(mi)(mi)封性測試(shi)(shi)(shi)儀依據(ju)GB/T 15171《軟包裝(zhuang)(zhuang)件(jian)密(mi)(mi)封性能試(shi)(shi)(shi)驗(yan)方法》ASTM D3078《起泡法測定軟包裝(zhuang)(zhuang)泄(xie)漏的標準試(shi)(shi)(shi)驗(yan)方法》設計制造(zao)適用于食(shi)品、制藥、醫療(liao)器(qi)械、日化、汽車、 電子元器(qi)件(jian)、文具(ju)等行業的包裝(zhuang)(zhuang)袋(dai)、瓶、管、罐、盒等的密(mi)(mi)封試(shi)(shi)(shi)驗(yan)。亦可(ke)進行經(jing)跌落、耐壓(ya)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)后的試(shi)(shi)(shi)件(jian)的密(mi)(mi)封性能測試(shi)(shi)(shi)。

    更新時間:2023-10-13產品型號:
  • 智能型密封檢測儀

    智能(neng)(neng)型(xing)密(mi)(mi)封(feng)檢測儀依據GB/T 15171《軟包裝件密(mi)(mi)封(feng)性能(neng)(neng)試(shi)驗(yan)方法(fa)(fa)》ASTM D3078《起泡(pao)法(fa)(fa)測定(ding)軟包裝泄漏的標準試(shi)驗(yan)方法(fa)(fa)》設計制造適用于食(shi)品、制藥、醫(yi)療器械(xie)、日化、汽車、電子元器件、文具(ju)等行(xing)業的包裝袋、瓶(ping)、管、罐(guan)、盒等的密(mi)(mi)封(feng)試(shi)驗(yan)。亦可進(jin)行(xing)經跌落(luo)、耐壓試(shi)驗(yan)后的試(shi)件的密(mi)(mi)封(feng)性能(neng)(neng)測試(shi)。

    更新時間:2022-10-25產品(pin)型號:AT-MF-3
  • 智能式密封試驗儀

    智(zhi)能(neng)(neng)式密(mi)(mi)封(feng)試(shi)(shi)(shi)驗儀依據GB/T 15171《軟包(bao)裝件(jian)密(mi)(mi)封(feng)性(xing)能(neng)(neng)試(shi)(shi)(shi)驗方(fang)法(fa)》ASTM D3078《起泡法(fa)測定軟包(bao)裝泄(xie)漏的(de)標(biao)準試(shi)(shi)(shi)驗方(fang)法(fa)》設(she)計制(zhi)造適用于食品、制(zhi)藥、醫療器械、日化、汽車、電(dian)子元器件(jian)、文具等行業(ye)的(de)包(bao)裝袋、瓶(ping)、管、罐、盒(he)等的(de)密(mi)(mi)封(feng)試(shi)(shi)(shi)驗。亦可(ke)進行經跌(die)落、耐壓(ya)試(shi)(shi)(shi)驗后的(de)試(shi)(shi)(shi)件(jian)的(de)密(mi)(mi)封(feng)性(xing)能(neng)(neng)測試(shi)(shi)(shi)。

    更新時間:2022-12-16產品型號:
  • 數顯密封測定儀

    產品用(yong)(yong)途:數顯密封(feng)測定儀適用(yong)(yong)于食品、制(zhi)藥(yao)、醫(yi)療(liao)器械、日(ri)化、汽車、電子元器件(jian)、文具等(deng)行(xing)業的包裝袋、瓶、管、罐、盒等(deng)的密封(feng)試(shi)(shi)驗。亦可(ke)進行(xing)經跌落、耐(nai)壓試(shi)(shi)驗后的試(shi)(shi)件(jian)的密封(feng)性能測試(shi)(shi)。

    更新時間:2022-12-19產品型號(hao):AT-MF-2
  • 智能密封試驗儀

    智(zhi)能密(mi)封(feng)(feng)試驗(yan)(yan)儀(yi)依據(ju)GB/T 15171《軟包裝件(jian)密(mi)封(feng)(feng)性能試驗(yan)(yan)方法(fa)》ASTM D3078《起(qi)泡法(fa)測定軟包裝泄(xie)漏(lou)的標準試驗(yan)(yan)方法(fa)》設計制(zhi)造(zao)適用(yong)于(yu)食品、制(zhi)藥、醫療器械、日化(hua)、汽車、電子元(yuan)器件(jian)、文(wen)具等(deng)行業(ye)的包裝袋、瓶(ping)、管、罐、盒(he)等(deng)的密(mi)封(feng)(feng)試驗(yan)(yan)。亦(yi)可(ke)進行經跌落(luo)、耐壓(ya)試驗(yan)(yan)后(hou)的試件(jian)的密(mi)封(feng)(feng)性能測試。

    更新時(shi)間:2022-12-19產品(pin)型號(hao):AT-MF-3
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